KLA-Tencor公司（納斯達克股票代碼：KLAC）今天針對10納米以下（sub-10nm）集成電路（IC）器件的開發和批量生產推出四款創新的量測系統：Archer™600疊對量測系統，WaferSight™PWG2圖案晶片幾何特征測量系統，SpectraShape™ 10K光學關鍵尺寸（CD）量測系統和SensArray®HighTemp 4... （來源：新品頻道）
KLA－TencorArcher600WaferSightPWG2SpectraShape 10KSensArrayHighTemp 4mm 2017-3-20 14:18
Touch Taiwan 2016：賀利氏推出用于導電高分子薄膜上的乾膜光阻黃光圖案化制程技術, 并展示用于柔性觸摸顯示屏的快速紅外固化解決方案 在今年8月24-26日舉辦的Touch Taiwan展覽會上，賀利氏將推出通過DFR (Dry-Film Resist 干膜光阻)黃光蝕刻技術在Clevios導電高分子薄膜圖案化的新觸控面板制程。該... （來源：新品頻道）
賀利氏Touch Taiwan可折疊式觸控面板新技術Dry－Film Resist干膜光阻 2016-8-4 15:51
在美國西部半導體展覽會前，KLTencor 公司（納斯達克股票代碼：KLAC）今天為前沿集成電路制造推出了六套先進的缺陷檢測與檢查系統：3900 系列（以前A-稱為第 5 代）和 2930 系列寬波段等離子光學檢測儀、Puma™ 9980 激光掃描檢測儀、CIRCL™5 全表面檢測套件、Surfscan® SP5XP 無缺陷檢... （來源：新品頻道）
KLA－Tencor晶圓檢查系列產品 2016-7-12 16:21
KLA-Tencor 公司宣布推出 WaferSight™ PWG 已圖案晶圓幾何形狀測量系統、LMS IPRO6 光罩圖案位置測量系統和 K-T Analyzer® 9.0 先進數據分析系統。這三種新產品支持 KLA-Tencor 獨特的 5D™ 圖案成型控制解決方案，此方案著重于解決圖案成型工藝控制上的五個主要問題——元件結構的三維... （來源：新品頻道）
KLA－TencorLMS IPRO6光罩圖案位置測量WaferSight PWG已圖案晶圓幾何形狀測量 2014-9-1 15:31
KLA-Tencor 公司宣布推出 Teron™ SL650，該產品是專為集成電路晶圓廠提供的一種新型光罩質量控制解決方案，支持 20nm 及更小設計節點。Teron SL650 采用 193nm光源及多種 STARlight™ 光學技術，提供必要的靈敏度和靈活性，以評估新光罩的質量，監控光罩退化，并檢測影響成品率的光罩缺陷，... （來源：新品頻道）
KLA－TencorTeron SL650光罩檢測系統 2014-5-28 13:51
高亮度紅光LED芯片是一種亮度高、可靠性好的發光器件。相對于普通結構的紅光LED芯片，高亮度紅光芯片采用鍵合工藝實現襯底置換，用到熱性能好的硅襯底（硅的熱導率約為1.5W/K.cm）代替砷化鎵襯底（砷化鎵的熱導率約為0.8W/K.cm），芯片具有更低熱阻值，散熱性能更好，有利于提高可靠性。另外，在P-GaP上... （來源：新品頻道）
士蘭明芯高亮度紅光LED芯片批量生產 2009-7-31 11:10
KIC日前宣布，在2007年8月28-31日，在深圳會展中心舉辦的華南NEPCON/EMT展覽會上，推出新一代溫度曲線測試儀KICExplorer。KICExplorer擁有12個熱電偶。熱電偶接口的設計實現了它獨特的微小型設計，且其成本要低于使用標準K型熱電偶。 在一個小型設備中采集更多的數據僅僅只是一個開始。KICExplorer給您... （來源：新品頻道）
溫度曲線測試儀儀器儀表KIC Explorer 2007-8-24 11:49
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