西門子數(shù)字化工業(yè)軟件日前推出 Tessent™ In-System Test 軟件,作為一款突破性的可測試性設(shè)計(jì) (DFT) 解決方案,旨在增強(qiáng)下一代集成電路 (IC) 的系統(tǒng)內(nèi)測試能力。 Tessent In-System Test 專為解決老化和環(huán)境因素等導(dǎo)致的靜默數(shù)據(jù)損壞或錯誤 (SDC/SDE) 挑戰(zhàn)而設(shè)計(jì),是可與 Tessent™ Streami... (來源:新聞頻道)
西門子Tessent In-System Test 2024-11-12 14:20