高級測試設(shè)計(jì) (DFT) 技術(shù)通過提高順序翻牌的可控性和可觀察性,提供高效的測試解決方案,以應(yīng)對更高測試成本、更高功耗、測試面積和較低幾何尺寸下的引腳數(shù)。這反過來又提高了SoC的良率,可靠性和可測試性是當(dāng)今ASIC世界的重要因素。SoC 只不過是在單個(gè)硅襯底上集成多個(gè)處理器內(nèi)核、微控制器、接口、... (來源:技術(shù)文章頻道)
分層DFT技術(shù) SoC 2022-11-24 09:51
作者:Sunil Bhatt,Chintan Panchal,B. Ashok Kumar先進(jìn)的測試設(shè)計(jì) (DFT)技術(shù)提供了高效的測試解決方案,通過提高順序觸發(fā)器的可控性和可觀察性來處理更高的測試成本、更高的功耗、更高的測試面積和更小尺寸的引腳數(shù)。反過來,這提高了 SoC 的良率。可靠性和可測試性是當(dāng)今 ASIC 世界的重... (來源:技術(shù)文章頻道)
DFT技術(shù) SoC 設(shè)計(jì) 2022-6-22 09:15