IIP的例子包括用于邏輯和存儲器的內建自測試(BIST),以及用于嵌入式存儲器的內建修復分析(BIRA)、內建自修復(BISR)和錯誤校正代碼(ECC)。本文將討論這樣一種面向嵌入式存儲器測試和修復的IIP,以及這種IIP如何解決設計和制造過程各個階段的良品率問題。 (來源:下載頻道)
網絡資源 2007-9-12 16:04