簡介 IC測(cè)試分類圖任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設(shè)計(jì)的單片模塊，IC測(cè)試就是集成電路的測(cè)試，就是運(yùn)用各種方法，檢測(cè)那些在制造過程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。如果存在無缺陷的產(chǎn)品的話，集成電路的測(cè)試也就不需要了。由于實(shí)際的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少... （來源：電子百科頻道）
2013-6-27 10:02
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