作者：Edwin Omoruyi，高級應用工程師 問題 人工智能(AI)應用對高性能內存，特別是高帶寬內存(HBM)的需求不斷增長，這是否會導致自動測試設備(ATE)廠商的設計變得更加復雜？ 回答 AI需要高密度和高帶寬來高效處理數據，因此HBM至關重要。ATE廠商及其開發的系統需要跟上... （來源：技術文章頻道）
自動測試設備PhotoMOSAI人工智能 2025-5-29 13:03
作者：Edwin Omoruyi，高級應用工程師 摘要 本文提出，CMOS開關可以取代自動測試設備(ATE)廠商使用的PhotoMOS®開關。CMOS開關的電容乘電阻(CxR)性能可以與PhotoMOS相媲美，且其導通速度、可靠性和可擴展性的表現也很出色，契合了先進內存測試時代ATE廠商不斷升級的需求。 簡介 人工智能... （來源：技術文章頻道）
自動測試設備應用PhotoMOS開關 2025-2-19 15:00
搜索到2條【PhotoMOS開關】相關的技術文章。
搜索到2條【PhotoMOS開關】相關的技術文章。
查看關鍵詞的分類頻道
