作者：Edwin Omoruyi，高級應(yīng)用工程師 問題 人工智能(AI)應(yīng)用對高性能內(nèi)存，特別是高帶寬內(nèi)存(HBM)的需求不斷增長，這是否會導(dǎo)致自動測試設(shè)備(ATE)廠商的設(shè)計變得更加復(fù)雜？ 回答 AI需要高密度和高帶寬來高效處理數(shù)據(jù)，因此HBM至關(guān)重要。ATE廠商及其開發(fā)的系統(tǒng)需要跟上... （來源：技術(shù)文章頻道）
自動測試設(shè)備PhotoMOSAI人工智能 2025-5-29 13:03
作者：Edwin Omoruyi，高級應(yīng)用工程師 摘要 本文提出，CMOS開關(guān)可以取代自動測試設(shè)備(ATE)廠商使用的PhotoMOS®開關(guān)。CMOS開關(guān)的電容乘電阻(CxR)性能可以與PhotoMOS相媲美，且其導(dǎo)通速度、可靠性和可擴展性的表現(xiàn)也很出色，契合了先進內(nèi)存測試時代ATE廠商不斷升級的需求。 簡介 人工智能... （來源：技術(shù)文章頻道）
自動測試設(shè)備應(yīng)用PhotoMOS開關(guān) 2025-2-19 15:00
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