作者:Edwin Omoruyi,高級應(yīng)用工程師 問題 人工智能(AI)應(yīng)用對高性能內(nèi)存,特別是高帶寬內(nèi)存(HBM)的需求不斷增長,這是否會導(dǎo)致自動測試設(shè)備(ATE)廠商的設(shè)計變得更加復(fù)雜? 回答 AI需要高密度和高帶寬來高效處理數(shù)據(jù),因此HBM至關(guān)重要。ATE廠商及其開發(fā)的系統(tǒng)需要跟上... (來源:技術(shù)文章頻道)
自動測試設(shè)備PhotoMOSAI人工智能 2025-5-29 13:03
作者:Edwin Omoruyi,高級應(yīng)用工程師 摘要 本文提出,CMOS開關(guān)可以取代自動測試設(shè)備(ATE)廠商使用的PhotoMOS®開關(guān)。CMOS開關(guān)的電容乘電阻(CxR)性能可以與PhotoMOS相媲美,且其導(dǎo)通速度、可靠性和可擴展性的表現(xiàn)也很出色,契合了先進內(nèi)存測試時代ATE廠商不斷升級的需求。 簡介 人工智能... (來源:技術(shù)文章頻道)
自動測試設(shè)備應(yīng)用PhotoMOS開關(guān) 2025-2-19 15:00